title
Optimization of Built-In Self-Test in Digital Systems
Sisseehitatud enesetestimise optimeerimine digitaalsüsteemides
series
Informatics and System Engineering C
Informaatika ja süsteemitehnika C
author
Kruus, Helena
keywords
digitaalsüsteemide testimine
sisseehitatud isetestimine
hübriidne isetestimine
rikete mudelid
optimeerimisalgoritmid
dissertatsioonid
testing of digital systems
built-in self-test
hybrid BIST
fault models
optimization algorithms
dissertations
publisher
TUT Press
supervisor
Ubar, Raimund-Johannes
defence date
02.09.2011
identifier
ISBN 9789949231492 (publication)
ISBN 9789949231508 (pdf)
ISSN 1044731
language
eng
institution
Tallinna Tehnikaülikool
Tallinn University of Technology
faculty
Infotehnoloogia teaduskond
Faculty of Information Technology
department / college
Arvutitehnika instituut
Department of Computer Engineering
subunit
Arvutitehnika ja -diagnostika õppetool
Chair of Computer Engineering and Diagnostics