title
Hierarchical Test Pattern Generation and Untestability Identification Techniques for Synchronous Sequential Circuits
Hierarhilised testigenereerimise ja mittetestitavuse identifitseerimise meetodid sünkroonsetele järjestikskeemidele
author
Rannaste, Anna
keywords
hierarhiline testigenereerimine
järjestikskeem
digitaalskeem
mittetestitav viga
dissertatsioonid
hierarchical test pattern generation
sequential circuit
digital circuit
untestable fault
dissertations
publisher
TUT Press
supervisor
Raik, Jaan
defence date
25.11.2010
identifier
ISBN 9789949230419
ISSN 14064731
language
eng
institution
Tallinna Tehnikaülikool
Tallinn University of Technology
faculty
Infotehnoloogia teaduskond
Faculty of Information Technology
department / college
Arvutitehnika instituut
Department of Computer Engineering
subunit
Arvutitehnika ja -diagnostika õppetool
Chair of Computer Engineering and Diagnostics