Toggle navigation
Otsing
Kollektsioonid
Registrid
Abi ja info
Digikogu
Otsing
Kollektsioonid
Registrid
Abi ja info
Intranet
Logi sisse
pealkiri
Hierarchical Test Pattern Generation and Untestability Identification Techniques for Synchronous Sequential Circuits
Hierarhilised testigenereerimise ja mittetestitavuse identifitseerimise meetodid sünkroonsetele järjestikskeemidele
autor
Rannaste, Anna
märksõnad
hierarhiline testigenereerimine
järjestikskeem
digitaalskeem
mittetestitav viga
dissertatsioonid
hierarchical test pattern generation
sequential circuit
digital circuit
untestable fault
dissertations
väljaandja
TUT Press
juhendaja
Raik, Jaan
kaitsmiskuupäev
25.11.2010
identifikaator
ISBN 9789949230419
ISSN 14064731
keel
eng
asutus
Tallinna Tehnikaülikool
Tallinn University of Technology
teaduskond
Infotehnoloogia teaduskond
Faculty of Information Technology
instituut / kolledž
Arvutitehnika instituut
Department of Computer Engineering
allüksus
Arvutitehnika ja -diagnostika õppetool
Chair of Computer Engineering and Diagnostics
Laadi alla
pdf
637 KB