Toggle navigation
Search
Collections
Indexes
FAQ
Digikogu
Search
Collections
Indexes
FAQ
Intranet
Logi sisse
title
SiC Schottky dioodi taastumisaja sõltuvus barjääri mahtuvusest ja takistusest
The dependence of reverse recovery time on barrier capacitance and series-on resistance in SiC Schottky diodes
author
Veher, Oleksandr
keywords
taastumisaeg
Schottky diood
barjääri mahtuvus
takistus
magistritööd
reverse recovery time
Schottky diode
barrier capacitance
series-on resistance
master's theses
supervisor
Sleptšuk, Natalja
Toompuu, Jana
defence date
06.06.2017
language
eng
institution
Tallinna Tehnikaülikool
Tallinn University of Technology
faculty
Infotehnoloogia teaduskond
School of Information Technologies
department / college
Thomas Johann Seebecki elektroonikainstituut
Thomas Johann Seebeck Department of Electronics
subunit
Elektroonika ja sidetehnika õppekeskus
Study Centre for Electronics and Communication Technologies
Download fulltext
pdf
3,24 MB