Toggle navigation
Otsing
Kollektsioonid
Registrid
Abi ja info
Digikogu
Otsing
Kollektsioonid
Registrid
Abi ja info
Intranet
Logi sisse
Vali kollektsioon
vali kõik
eemalda valik
artiklid
bakalaureusetööd
digiteeritud perioodika
diplomitööd
doktoritööd
IOP
kaitsmisele minevad doktoritööd
konverentsikogumikud
magistritööd
raamatukogu väljaanded
standardid
teadus- ja arengutegevuse aruanded
Tehnikaülikooli ajalugu
Tehnikaülikooli toimetised
uuringuaruanded
varia
õpikud ja õppevahendid
Pealkiri
Autor/juhendaja/koostaja
Struktuuriüksus
Märksõna
Aasta
-
Reasta
autor A-Z
autor Z-A
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri A-Z
pealkiri Z-A
Register
test generation - märksõna
Kuva ainult täistekste
Rakenda
Kirjeid leitud: 4
1.
DfT-based External Test and Diagnosis of Mesh-like Networks on Chips. Testitavusel põhinev välise testi ja diagnoosi meetod kahemõõtmelistele kiipvõrkudele
Govind, Vineeth
27.11.2009
doktoritööd
2.
Hybrid Built-in Self-Test : Methods and Tools for Analysis and Optimization of BIST. Sisseehitatud isetestimine : meeotodid ja vahendid analüüsiks ja optimeerimiseks
Orasson, Elmet
24.10.2007
doktoritööd
3.
Testide genereerimine juhuslike arvude meetodil digitaalskeemide rikete diagnoosiks. Random Diagnostic Test Generation for Digital Circuits
Osimiry, Emmanuel Ovie
08.09.2016
magistritööd
4.
Kahefaasiline lineaarse keerukusega lagoritm rikete kollapseerimiseks digitaalskeemides. Double phase fault collapsing with linear complexity in digital circuit
Oyeniran, Adeboye Stephen
11.06.2015
magistritööd
Kirjeid leitud: 4
1