Toggle navigation
Otsing
Kollektsioonid
Registrid
Abi ja info
Digikogu
Otsing
Kollektsioonid
Registrid
Abi ja info
Intranet
Logi sisse
pealkiri
Characterization of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy
autor
Jenkins, M. L.
Kirk, M. A.
märksõnad
materials
effect of radiation onmaterials
microscopy
transmission electron microscopy
väljaandja
IOP Publishing
ilmumisaasta
2001
identifikaator
ISBN 075030748X
allikas
Series in Microscopy in Materials Science
keel
eng
Juurdepääsu piirang: TalTechi arvutivõrgu kasutajale.
pdf
3,5 MB