pealkiri
Optimization of Built-In Self-Test in Digital Systems
Sisseehitatud enesetestimise optimeerimine digitaalsüsteemides
valdkond
Informatics and System Engineering C
Informaatika ja süsteemitehnika C
autor
Kruus, Helena
märksõnad
digitaalsüsteemide testimine
sisseehitatud isetestimine
hübriidne isetestimine
rikete mudelid
optimeerimisalgoritmid
dissertatsioonid
testing of digital systems
built-in self-test
hybrid BIST
fault models
optimization algorithms
dissertations
väljaandja
TUT Press
juhendaja
Ubar, Raimund-Johannes
kaitsmiskuupäev
02.09.2011
identifikaator
ISBN 9789949231492 (publication)
ISBN 9789949231508 (pdf)
ISSN 1044731
keel
eng
asutus
Tallinna Tehnikaülikool
Tallinn University of Technology
teaduskond
Infotehnoloogia teaduskond
Faculty of Information Technology
instituut / kolledž
Arvutitehnika instituut
Department of Computer Engineering
allüksus
Arvutitehnika ja -diagnostika õppetool
Chair of Computer Engineering and Diagnostics