pealkiri
Testide genereerimine viivitusriketele digitaalskeemides
Transition Delay Test Generation Using Stuck-At-Fault Test Patterns
autor
Ali, Md Younus
märksõnad
magistritööd
master's theses
juhendaja
Ubar, Raimund-Johannes
kaitsmiskuupäev
29.05.2020
keel
eng
asutus
Tallinna Tehnikaülikool
Tallinn University of Technology
teaduskond
Infotehnoloogia teaduskond
School of Information Technologies
instituut / kolledž
Arvutisüsteemide instituut
Department of Computer Systems