Toggle navigation
Otsing
Kollektsioonid
Registrid
Abi ja info
Digikogu
Otsing
Kollektsioonid
Registrid
Abi ja info
Intranet
Logi sisse
pealkiri
Characterization of Silicon Carbide (SiC) and Graphene-Based Novel Semiconductor Devices
Ränikarbiidil (SiC) ja grafeenil pōhinevate uudsete pooljuhtstruktuuride karakteriseerimine
autor
Rashid, Haroon Muhammad
märksõnad
dissertations
dissertatsioonid
doktoritöö järjekorranumber
6/2021
väljaandja
TalTech Press
TalTech Kirjastus
juhendaja
Koel, Ants
Rang, Toomas
kaitsmiskuupäev
01.02.2021
identifikaator
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/a64fd50e-125c-49ad-b0a6-6ad2e01b8bfa
https://doi.org/10.23658/taltech.6/2021
ISBN 9789949836598 (pdf)
keel
eng
õigused
CC BY-NC-SA
asutus
Tallinn University of Technology
Tallinna Tehnikaülikool
teaduskond
School of Information Technologies
Infotehnoloogia teaduskond
instituut / kolledž
Thomas Johann Seebeck Department of Electronics
Thomas Johann Seebecki elektroonikainstituut
Laadi alla
pdf
23,05 MB