pealkiri
Characterization of Interfaces Between the Metal Film and Silicon Carbide Semiconductor
Metallkontakti ja ränikarbiidi vahelise liidespinna karakteriseerimine
autor
Ziko, Mehadi Hasan
märksõnad
P-type SiC
IV
CV
DLTS
L-DLTS
electron-irradiation
DW
sputtering
evaporation
dissertations
kirjeldus
Paper II not available electronically
Artikkel II ei ole elektrooniliselt kättesaadav
doktoritöö järjekorranumber
52/2021
väljaandja
TalTech Press
TalTech Kirjastus
juhendaja
Koel, Ants
Pardy, Tamas
kaitsmiskuupäev
29.11.2021
identifikaator
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/34be534c-63e8-4013-b271-eaf1a7cb22e7
ISBN 978-9949-83-764-9 (PDF)
https://doi.org/10.23658/taltech.52/2021
keel
eng
õigused
CC BY-NC-SA
asutus
Tallinn University of Technology
Tallinna Tehnikaülikool
teaduskond
School of Information Technologies
Infotehnoloogia teaduskond
instituut / kolledž
Thomas Johann Seebeck Department of Electronics
Thomas Johann Seebecki elektroonikainstituut