Toggle navigation
Otsing
Kollektsioonid
Registrid
Abi ja info
Digikogu
Otsing
Kollektsioonid
Registrid
Abi ja info
Intranet
Logi sisse
pealkiri
Constraints Solving Based Hierarchical Test Generation for Synchronous Sequential Circuits
Kitsenduste lahendamisel baseeruv hierarhiline testigenereerimine sünkroonsetele järjestikskeemidele
valdkond
Informatics and System Engineering C
Informaatika ja süsteemitehnika C
autor
Viilukas, Taavi
märksõnad
automaatsed testide genereerijad
hierarhiline ATPG
digitaalsüsteemide test
dissertatsioonid
automated test pattern generation
hierarchical ATPG
digital testing
dissertations
väljaandja
TUT Press
juhendaja
Raik, Jaan
kaitsmiskuupäev
30.11.2012
identifikaator
ISBN 9789949233830 (publication)
ISBN 9789949233847 (pdf)
ISSN 14064731
keel
eng
asutus
Tallinna Tehnikaülikool
Tallinn University of Technology
teaduskond
Infotehnoloogia teaduskond
Faculty of Information Technology
instituut / kolledž
Arvutitehnika instituut
Department of Computer Engineering
Laadi alla
pdf
3,03 MB